Análisis de compatibilidad tecnológica entre calibradores secundarios hart de gama baja y alta con instrumentos hart

Abstract

En este trabajo se realiza el análisis de compatibilidad tecnológica entre dispositivos que manejan el protocolo de comunicación industrial Highway Addressable Remote Transducer y calibradores maestros secundarios de gama baja y gama alta que se encuentran en la facultad de ingeniería eléctrica y electrónica. Se inicia una contextualización en el aspecto del protocolo de comunicación y en las características de los dispositivos que se van a analizar. Luego de esto se presentan las pruebas que se realizaron en cada dispositivo que se encuentran en los diferentes módulos del laboratorio. En la metodología utilizada se describe el proceso que se realizó para lograr este análisis. Con las pruebas realizadas se obtuvieron resultados del 100% de compatibilidad ent re los dispositivos ubicados en el módulo de presión y los dos calibradores maestros secundarios. Los dispositivos involucrados en el módulo de nivel tuvieron 100% de compatibilidad con el calibrador maestro secundario de gama alta pero 0% de compatibilidad con el calibrador maestro secundario de gama baja. El dispositivo ubicado en el módulo de flujo obtuvo 0% de compatibilidad con ambos calibradores maestro secundario.

In this work the analysis of technological compatibility between devices that handle the protocol of Highway Addressable Remote Transducer industrial communication and low-end and high-end secondary master calibrators found in the faculty of electrical and electronic engineering. A contextualization begins in the aspect of the communication protocol and in the characteristics of the devices to be analyzed. After this, the tests that were performed on each device found in the different modules of the laboratory are presented. The process used to achieve the analysis is described in the methodology used. With the tests performed, results were obtained that give 100% compatibility between the devices located in the pressure module and the two secondary master calibrators. The devices involved in the level module process had 100% compatibility with the high-end secondary master calibrator but 0% compatibility with the low-end secondary master calibrator. The device located in the flow module obtained 0% compatibility with both secondary master calibrators.